Mikroskope, Komponenten und optische Messtechnik

Nikon CFI TU Plan EPI ELWD 20x

Artikel-Nummer: MUE21200 Nikon CFI TU Plan EPI ELWD 20x, Gewinde M25x0,75, Arbeitsabstand 19,0mm, NA 0,4, Hellfeld

Wir nutzen Cookies auf unserer Website. Einige von ihnen sind essenziell für den Betrieb der Seite, während andere uns helfen, diese Website und die Nutzererfahrung zu verbessern (Tracking Cookies). Sie können selbst entscheiden, ob Sie die Cookies zulassen möchten. Bitte beachten Sie, dass bei einer Ablehnung womöglich nicht mehr alle Funktionalitäten der Seite zur Verfügung stehen.