Mikroskope und Komponenten, optische Messtechnik, Rauheitsmesstechnik

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Nikon Interferometrieobjektive (Mirau)

Nikon CF IC EPI Plan DI 100x

Artikel-Nummer: MUL40900 Nikon CF IC EPI Plan DI 100x, Gewinde RMS, Arbeitsabstand 2,0mm, NA 0,7, Interferometrie

Nikon CF IC EPI Plan DI 50x

Artikel-Nummer: MUL40501 Nikon CF IC EPI Plan DI 50x, Gewinde RMS, Arbeitsabstand 3,4mm, NA 0,55, Interferometrie

Nikon CF IC EPI Plan DI 20x

Artikel-Nummer: MUL40201 Nikon CF IC EPI Plan DI 20x, Gewinde RMS, Arbeitsabstand 4,7mm, NA 0,4, Interferometrie

Nikon CF IC EPI Plan DI 10x

Artikel-Nummer: MUL40101 Nikon CF IC EPI Plan DI 10x, Gewinde RMS, Arbeitsabstand 7,4mm, NA 0,3, Interferometrie

Nikon Mikroskopkomponenten

Komplettübersicht der Nikon Objektive und Mikroskopkomponenten. Bitte schicken Sie eine kurze Anfrage, wir werden uns dann kurzfristig mit Ihnen in Verbindung setzen.

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