Mikroskope und Komponenten, optische Messtechnik, Rauheitsmesstechnik

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Rasterelektronenmikroskope

Jeol JCM7000, Jeol JCM-7000

Jeol Rasterelektronenmikroskop Neoscope JCM-7000, Vergrößerung 10-100.000x

Jeol JCM7000, Jeol JCM-7000, EDX

Jeol Rasterelektronenmikroskop Neoscope JCM-7000, Vergrößerung 10-100.000x, inkl. EDX

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